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大規模集成電路測試系統(Direct Mount) QT-9000
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Test System

QT-6000 Series分立器件高速測試系統 QT-6000

分立器件高速測試系統 QT-6000

應用范圍:QT-6000測試系統適用于測量中小功率三極管、場效應管、二極管等產品及晶圓,可擴展內置電容測試(DC+CAP)、scanbox等。

特點:
· 100% FT+QA 測試UPH>40K 
· DC+CAP同一工位測試先進的高速電容測試解決方案
· DC+TRR、DC+UIS
· 最小測試電容值100fF

主要技術指標:
測量精度 電流:<0.5% 讀值 + 0.05% 量程 + 1.5nA
電壓:<0.5% 讀值 + 0.05% 量程 + 1.5mV
電容:0.5% 讀值 + 0.05% 量程 + 10fF
技術指標 最大電流 電壓30A /1200V
電容表測量范圍:0.2-300pF(BIAS電壓范圍0-80V, 1MHz)
LCR測量范圍:0.1pF-0.1uF(BIAS電壓范圍0-30V, 1MHZ)
分辨率 16 bit  ADC/DAC
波形記錄 內部示波器

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